镀膜玻璃针孔产生的因素是哪些
时间:2022-03-10 14:52:04 阅读:168
针孔的发生实际上和膜层与基板结合的健旺度有直接关系。因而,控制好基板清洁度和控制好膜层的质量对削减针孔起到很好地促进作用。
1.锡槽光畸变点是发生针孔的主要原因
(1)大多数针孔的发生基本上是因为锡槽气氛欠好,构成硫化亚锡或氧化亚锡挥发物,坠落到玻璃板上导致玻璃存在光畸变点构成的。而大多数伪针孔基本是锡槽低温区坠落物构成的。
(2)有光畸变点方位的膜层附着不健旺,会发生坠落,然后发生针孔。在镀膜器后的低温区发生的硫化物坠落掉到膜层上,有或许会因重力损坏膜层,也或许附着在膜层表面。当附着在膜层表面时,会损坏表层膜层质量,当钢化时变薄的膜层会因氧化构成伪针孔。
2.镀膜系统维护不到位会导致针孔的发生
(1)镀膜进气管路里的粉尘导致
当管路里呈现渗漏或气体不纯,硅烷会与氧气发生反应,构成粉尘。镀膜时粉尘会随反应气体一起经镀膜器喷射到玻璃板上。粉尘和玻璃板结合不健旺坠落构成针孔。因而要守时拾掇管路。一起镀膜距离逾越1周以上时有必要对管路进行检漏。气密性实验发现漏点及时处理。一起更换气瓶及气瓶组时,增加置换次数并测漏,避免空气进入。
(2)镀膜器拾掇不洁净会导致针孔的发生
当镀膜器及冷却设备拾掇不洁净时,会发生和管路拾掇不洁净相同的问题。附着的粉尘会坠落到玻璃板上、膜层里或膜层上,然后导致针孔的发生。
3.钢化后呈现针孔
硅质膜的堆积一般在650℃左右的玻璃上进行。这种条件下镀的硅膜通常对错晶,远胜于晶体膜。这种膜层有两个特色,一是呈现H悬挂键,二是Si-Si键比较弱。当钢化温度过高时,会构成膜层氧化现象。
针孔和膜层结构、锡槽大环境有关,是影响在线硅质阳光镀膜发生的主要原因。只需了解针孔构成的机理,就能找到其缺陷构成的原因,然后削减缺陷的发生。
文章源自:http://www.jingyeboli.com
1.锡槽光畸变点是发生针孔的主要原因
(1)大多数针孔的发生基本上是因为锡槽气氛欠好,构成硫化亚锡或氧化亚锡挥发物,坠落到玻璃板上导致玻璃存在光畸变点构成的。而大多数伪针孔基本是锡槽低温区坠落物构成的。
(2)有光畸变点方位的膜层附着不健旺,会发生坠落,然后发生针孔。在镀膜器后的低温区发生的硫化物坠落掉到膜层上,有或许会因重力损坏膜层,也或许附着在膜层表面。当附着在膜层表面时,会损坏表层膜层质量,当钢化时变薄的膜层会因氧化构成伪针孔。
2.镀膜系统维护不到位会导致针孔的发生
(1)镀膜进气管路里的粉尘导致
当管路里呈现渗漏或气体不纯,硅烷会与氧气发生反应,构成粉尘。镀膜时粉尘会随反应气体一起经镀膜器喷射到玻璃板上。粉尘和玻璃板结合不健旺坠落构成针孔。因而要守时拾掇管路。一起镀膜距离逾越1周以上时有必要对管路进行检漏。气密性实验发现漏点及时处理。一起更换气瓶及气瓶组时,增加置换次数并测漏,避免空气进入。
(2)镀膜器拾掇不洁净会导致针孔的发生
当镀膜器及冷却设备拾掇不洁净时,会发生和管路拾掇不洁净相同的问题。附着的粉尘会坠落到玻璃板上、膜层里或膜层上,然后导致针孔的发生。
3.钢化后呈现针孔
硅质膜的堆积一般在650℃左右的玻璃上进行。这种条件下镀的硅膜通常对错晶,远胜于晶体膜。这种膜层有两个特色,一是呈现H悬挂键,二是Si-Si键比较弱。当钢化温度过高时,会构成膜层氧化现象。
针孔和膜层结构、锡槽大环境有关,是影响在线硅质阳光镀膜发生的主要原因。只需了解针孔构成的机理,就能找到其缺陷构成的原因,然后削减缺陷的发生。
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